ТЕСТЕР ИНДУКТИВНОСТИ
Бывает так, что имеется голый ферритовый сердечник, и нужно его намотать таким образом, чтобы еще на стадии намотки была возможность как-то замерить получившуюся индуктивность, не откусывая другой конец провода. И тут есть 2 варианта: если известный сердечник, тогда нужен просто калькулятор. Другой вариант когда есть сердечник, по виду видно вроде феррит, а что дальше? Если например преобразователь мощный, особенно нужно знать что это за феррит. Для этого можете использовать генератор ударного возбуждения. Вот его схема.
Итак, есть кольцо. К примеру К56х30х20 и нужно замерять проницаемость. Мотаем 10 витков и генератором ударного возбуждения меряем частоту свободных колебаний, а по ним, зная емкость конденсатора, рассчитываем индуктивность и проницаемость. Индуктивность 10-ти витков к примеру 580 мкГн. Тогда проницаемость получается около 2300. Меряем индукцию насыщения, собираем по-быстрому такой генератор:
Измеряем частоту генерации.
W = U*dT / (S*B*100)
откуда В = U*dT / (W*B*100)
- U – 11,8 В, (0,2 В теряются на открытом транзисторе)
- dT – ((1/F)/2 = (1/1970)/2)*1e6 = 254 мкс – длительность импульса
- W – 12 S = 2,6 (квадратные см, площадь сечения магнитопровода.
Откуда В = 11,8*254 / (12*2,6*100) = 0,96
В этой схеме меняется индукция насыщения от -В до +В, то есть индукция насыщения равна 0,96/2 = 0,48.
Смотрим теперь на феррит, если углы не закруглены – это отечественный феррит, ищем аналог среди нашего, если закруглены в виде фасок, то импортный.
Например, наш феррит. У нас проницаемость 2300, индукция насыщения 0,48. Ближайший феррит (он подчеркнут) в самом низу. Ошибка измерения обычно менее 10%, но она конечно есть, так что это расхождение нормально.
Можно еще замерять точку Кюри: в кастрюльку поместить феррит притянутый к магниту (к примеру от старого громкоговорителя), но ни как ни супермагниты, у них малая температура точки Кюри, испортится магнит, и медленно греть, а когда отскочит – засечь температуру. до 120 С – марка НН, около 200 – марка НМ.
В интернете есть мнения что нагревать так нельзя, они заблуждаются. Эта процедура мною делалась неоднократно и не заметил чтобы феррит потерял свои свойства.
А дальше, зная феррит, в Интернете куча калькуляторов, по ним можно и рассчитать. Да, проверяя феррит нужно также рассчитать и добротность, если она меньше 5 – такой феррит не использовать, он бракованный, часто имеет дефект, например внутри микротрещина или магнитожесткий феррит. Я раз с таким ферритом попался – горят ключи и все. После замера добротности понял, что феррит с брачком, поменял феррит и все заработало.
Расчет добротности:
Q = Pi/Ln(U1/U2)
Где U1 – амплитуда 1 колебания, U2 – амплитуда колебания следующего за ним.
Можно посчитать добротность колебаний, что на первой картинке: первое колебание амплитуда: U1-6 единиц напряжение, вторая U2-5 единиц напряжение. Q = 3,14/Ln(6/5) = 17,22. Вполне нормальный феррит.
В общем из измерительных приборов схема генератора ударного возбуждения, наряду с осциллографом, у меня одна из самых востребованных. Вот фото готовой собранной. Все детали в основном SMD.
Кстати, если кольцо из распыленного железа, то на преобразователь оно не годится, только на дроссель. Если проницаемость большая, хотя бы 1000 (обычно 2300), то это феррит, если 100 или меньше, то очень большая вероятность что это распыленное железо. Если 10000 или больше, это может быть пермаллой (но вряд ли, его сейчас в быту не применяют, дорого).
Вот если что цветная маркировка колец из распыленного железа. На этом всё, если остались вопросы, то велкам на форум. Автор материала derba.
Форум по схеме
T4 тестер LCR метр измеритель ESR,ёмкости,индуктивности
Главная → Генераторы, ESR- метры, тестера компонентов,частотомеры, USB- доктора → T4 тестер LCR метр измеритель ESR,ёмкости,индуктивности
Описание:
Последняя версия программного обеспечения прибора M328 1,2015 с расширенным функционалом.
Чип: Atmega328
Большой ЖК-дисплей с подсветкой, 2,128 * 64,
Ток потребления в ожидании 2 мА .
Питание от батареи 9 В (не входит в комплект)
Параметры:
Сопротивление: 0,1 Ом разрешение, максимум 50M Ом
Конденсатор: 25pf – 100000 мкФ
Индуктивность: 0,01 mHr – 20 Hr
Описание работы:
(перевод с китайско-английского автоматический)
1: автоматическое обнаружение NPN и PNP транзисторов, n-канальный и p-канальный MOSFET, диод (включая двойной диод), тиристорный, транзистор, резистор, конденсатор и другие компоненты
2: автоматическая проверка штифта элемента и дисплей на ЖК-дисплее
3. Может обнаруживать транзистор, защита MOSFET, коэффициент усиления диода и основание, чтобы определить излучатель транзистора, прямое смещенное напряжение
4: Измерьте емкость ворот и ворот порогового напряжения MOSFET
5: Используйте жидкокристаллический дисплей 12864 с зеленой подсветкой
Технические характеристики: для справки
1, однокнопочное управление, автоматическое отключение.
2, только ток выключения 20nA.
3, автоматическое обнаружение NPN, PNP биполярных транзисторов, N-каналов и P-каналов MOS FET, JFET, диодов, двух диодов, тиристоров, однонаправленный и двунаправленный тиристоров малой мощности.
5, измерение коэффициента усиления тока биполярного транзистора и порогового напряжения base-излучателя.
6, с помощью порогового напряжения и коэффициента усиления тока для идентификации транзисторов Дарлингтона.
7, может обнаруживать биполярные транзисторы и защитные диоды МОП-транзисторы.
8, измерение порогового напряжения ворот MOS FET и емкости ворот.
9, может одновременно отображаться два резистора и символ резистора. Отображаться справа с десятичная система стоимости 4. Символ сопротивления с обеих сторон показывает контактный номер. Таким образом, вы можете измерить потенциометр. Если стеклоочиститель не переносится в экстремальное положение, мы можем различить середину и оба конца штифта.
10, измерение сопротивления Разрешение 0,1 Ом, 50 м Ом может быть измерены.
12,2 мкФ больше конденсаторов может одновременно измерения эквивалентного последовательного сопротивления ESR значения. Два может быть отображена с десятичная система соотношение цена/качество, разрешение 0,01 Ом.
13, может быть в правильном порядке, и символ диода отображает два диода, и дает диод прямое напряжение.
14. Светодиодный индикатор обнаружен, так как выше прямое напряжение диода. Светодиодный модуль обозначен как два диода.
15, eeverse Разрывное напряжение составляет менее 4,5 V зенеровский диод может быть определен.
16, можно измерить одну диодную обратную емкость. Если биполярный транзистор, соединенный с основанием и коллектором или излучателем штифта, он может измерить емкость коллектора или соединения излучателя.
18 можно получить с помощью одного измерительного Выпрямительного моста.
Примечание: перед измерением емкости конденсатор должен быть разряжен, в противном случае очень вероятно, что измеритель будет поврежден!!!
| 1 500 руб |
← GM 328A тестер транзисторов, измеритель ёмкости, ESR, напряжения.
Генератор частоты.
Chroma 19301A Импульсный тестер обмоток (низкая индуктивность)
Импульсный тестер обмоток Chroma 19301A, применяемый с технологией тестирования высокой/низкой индуктивности, имеет импульсное напряжение 1000 В и высокоскоростную частоту дискретизации 200 МГц, что может удовлетворить большинству требований к тестированию силовых индукторов в широком диапазоне изделий индуктивности от 0,1 мкГн до 100 мкГн. Встроенные функции сравнения размеров площадей, дифференциального сравнения площадей, значения FLUTTER и значения LAPLACIAN позволяют эффективно проверять катушки на наличие плохой изоляции.
Проверка компонентов обмотки включает испытания электрических характеристик и испытаний на безопасное выдерживаемое напряжение. Обычно плохая изоляция катушек является причиной короткого замыкания слоя и короткого замыкания выходного контакта во время использования. Причина может заключаться в плохой первоначальной конструкции, плохом процессе формования или износе изоляционных материалов; поэтому добавление короткого теста слоя катушки к компонентам обмотки имеет необходимость.
Chroma 19301A — это оборудование, специально разработанное для тестирования компонентов обмотки с использованием микроконденсатора, заряжаемого высоким напряжением (низкая испытательная энергия), и тестируемой катушки для формирования параллельного резонанса RLC. Анализ формы затухающих колебаний с помощью высокоскоростного и сложного метода отбора проб позволяет успешно обнаруживать катушки с плохой изоляцией, а также проводить испытания выдерживаемого напряжения на качество обмотки и сердечников для компонентов силовой катушки индуктивности.
Напряжение пробоя (B.D.V)
Функция проверки напряжения пробоя Chroma 19301A использует скорость нарастания напряжения, чтобы определить, превышают ли размер области и лапласиан установленное значение, и проверить выдерживаемое напряжение катушки, установив начальное/конечное напряжение и скорость нарастания. С помощью этой функции инженеры по исследованиям и разработкам могут выполнять анализ продукта и исследования, чтобы улучшить слабое место катушки.
Проверка контакта (патент)
Во избежание плохого контакта или разомкнутой цепи, вызывающих мигание датчика прибора из-за максимального внутреннего выходного напряжения и вызывающих повреждение ИУ, Chroma 19301A выполнит проверку контактов перед тестированием, чтобы продлить срок службы датчиков.
Тестирование продуктов с высокой/низкой индуктивностью
Помимо технологии тестирования продуктов с низкой индуктивностью, Chroma 19301A также предназначен для тестирования продуктов с высокой индуктивностью от 0,1 мкГн до 100 мкГн. Функция определения внутренней индуктивности — это очень удобная операция, которая позволяет пользователю узнать величину индуктивности ИУ, переключиться на нужный диапазон для тестирования и выполнить сравнение формы волны соответствующей формы. Однослойный короткий тестер в сочетании с приложением для тестирования продуктов с высокой/низкой индуктивностью не только сокращает время на замену оборудования при переключении линейки продуктов, но и снижает затраты на заводские средства.
4-проводное тестирование
Поскольку обнаружение напряжения обычным 2-проводным устройством короткого замыкания происходит внутри токовой петли, измеренное напряжение сильно отличается от проверяемого устройства для измерения низкой индуктивности. Chroma 19301A использует двойное коаксиальное 4-проводное обнаружение, чтобы значительно повысить точность напряжения для правильных результатов испытаний.
Приложение для продукта
Приложение для высокоскоростного автоматического тестирования
Низкая индуктивность, применяемая к смартфону или планшетному ПК, имеет тенденцию быть тонким и легким на вид. Поскольку для производства индуктивностей используются полностью автоматические устройства для тестирования и упаковки, для удовлетворения потребностей высокоскоростного производства требуется высокоскоростное испытательное оборудование. Для выполнения этого тестового приложения Chroma 19301 оснащен функциями высокоскоростного и двойного коаксиального 4-проводного тестирования, которые могут уменьшить влияние длины проводки и работать с машиной автоматизации тестирования слоев, чтобы повысить эффективность для клиентов.
Приспособление для тестирования силового дросселя SMD
Силовой дроссель с низкой индуктивностью имеет небольшой размер, и для облегчения тестирования короткого слоя компания Chroma разработала 4-стороннее испытательное приспособление для измерения мощности SMD Power Choke (запатентовано), которое может работать с 19301 компенсация напряжения разности индуктивностей, чтобы помочь разработчику продукта или персоналу QA повысить эффективность испытаний.
Power Inductor – Impulse Vidding Tester> CROMA
949.600.6400
Получить цитату
Изучение индуктора мощности – Импульсная обмотка
CROMA 19301A
ОПИСАНИЕ. и конденсатор малой емкости (низкая испытательная энергия) параллельно с катушкой для формирования резонанса RLC
Получить техническое описание
Режим (зависит от модели)
Impulse Virting Test
0,1UH ~ 100UH
Выходное напряжение
10 В ~ 1000V
Удаленное разейство
LAN, USB и RS232
.
и высокоскоростная частота дискретизации 200 МГц, которая удовлетворяет большинству требований к испытаниям мощных индукторов для широкого диапазона изделий с индуктивностью от 0,1 мкГн до 100 мкГн. Встроенные функции сравнения размеров площадей, дифференциального сравнения площадей, значения FLUTTER и значения LAPLACIAN позволяют эффективно проверять катушки на наличие нарушений изоляции.
Получить техническое описание
Добавить в предложение
Введение и теория импульсных испытаний
«Импульсное испытание обмотки» — это «неразрушающий» метод, при котором на ИУ подается импульс высокой скорости и низкого напряжения и добавляется импульсное напряжение на колебательном конденсаторе (Cs) параллельной катушки, так что параллельный конденсатор и катушка будут генерировать колебания LCR. Затухание колебаний можно просмотреть, чтобы понять внутреннее состояние катушки, включая изоляцию, индуктивность и параллельную емкость (Cw) (см.
изображение: Схема проверки эквивалентной цепи). Затем проанализируйте и сравните эквивалентную форму сигнала хорошего и плохого тестируемого устройства для определения положительного или отрицательного результата. Целью импульсного испытания обмотки является обнаружение потенциальных дефектов, таких как короткий слой обмотки, плохая сварка электродов, плохая внутренняя изоляция катушки или сердечника и т. д. как можно раньше.
Технология импульсных испытаний с низкой индуктивностью
Chroma 19301A специально разработан для тестирования компонентов обмоток с низкой индуктивностью. Короткий тест слоя на индуктивность на продуктах составляет от 0,1 мкГн до 100 мкГн. Испытание ИУ с низкой индуктивностью отличается от испытаний обычных изделий, поскольку на него легко влияет эквивалентная индуктивность проводки в испытательной цепи, из-за чего испытательное напряжение распределяется по проводке, а напряжение ИУ становится намного ниже заданного напряжения во время измерения.
Кроме того, рабочее напряжение силового дросселя с низкой индуктивностью используется для низкого напряжения, поэтому импульсное испытательное напряжение обычно ниже, чем у обычных изделий с индуктивностью.
Подробнее о функциях
Тест высокой/низкой индуктивности (0,1UH ~ 100UH)
Высокоскоростной тест 18 мс
(P1.0 для ACQ)
USB Port для Waberform & Scure Capcture
3.
Интерфейсы LAN, USB и
RS232
Получить техническое описание
Прибор 19301A можно использовать для тестирования компонентов обмотки с малой индуктивностью и минимальной индуктивностью до 0,1 мкГн. 19301A обладает чрезвычайно высокой скоростью тестирования, что позволяет сократить время тестирования и повысить производительность автоматизированного производства. Кроме того, функция компенсации напряжения снижает влияние эквивалентной индуктивности проводки в автоматических машинах.
Model Options
| Model | Description |
| 19301A | Impulse Winding Tester (Low Inductance) |
| Accessories | |
| A193001 | SMD Choke Test Kit |
| A193002 | 1 м тестовая проволока + тестовый зажим |
| A193003 | 1 м тестовая проволока + режущая головка с плоской головкой |
| A193004 | 1-метровый тестовый кабель BNC-BNC (включая штыревой разъем BNC *2) |
Веб-семинар: Проверка электробезопасности 101
Ознакомьтесь с основными принципами проверки электробезопасности.
Импульсный тестер обмоток Chroma 19301A
Импульсный тестер обмоток Chroma 19301A сочетает в себе технологии испытаний с высокой и низкой индуктивностью, имеет максимальное импульсное напряжение 1000 В и высокую частоту дискретизации 200 МГц, что удовлетворяет большинству требований к испытаниям силовых индукторов с широким диапазоном индуктивности от 0,1 мкГн до 100 мкГн.
